2025年05月04日 星期日 首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿指南   |   期刊订阅   |   弘扬科学家精神专题   |   联系我们   |   English
  2024, Vol. 45 Issue (5): 652-664    DOI: 10.19636/j.cnki.cjsm42-1250/o3.2024.021
  研究论文 本期目录 | 过刊浏览 | 高级检索 |
薄膜/衬底系统中随机缺陷的敏感性研究
赖安迪, 廖军, 欧迪, 付果
长沙理工大学土木工程学院
Sensitivity of Structures to Random Defects in Film-Substrate Systems
全文: PDF (0 KB)   HTML (1 KB) 
输出: BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 由于原材料的差异和制造工艺的复杂性,工程结构中难以避免地存在随机缺陷。考虑到薄膜/衬底系统对缺陷的敏感性,本文采用Monte-Carlo法对随机缺陷结构的稳定性进行统计分析,并结合数值模拟探讨含随机缺陷的薄膜/衬底系统在失稳下的形貌演化和后屈曲平衡路径。数值结果表明,随机缺陷结构的临界载荷呈现不稳定性,其中缺陷显著降低了结构的临界载荷,随机缺陷破坏了结构的对称性,使有序的棋盘状图案转化成无序的褶皱核图案并影响了后续的形貌走势。该研究评估了薄膜结构中随机缺陷的潜在风险和影响,旨在提高薄膜器件、涂层和表面处理的可靠性和性能,同时缩小稳定性理论研究成果与实际设计应用之间的差距。
服务
把本文推荐给朋友
加入我的书架
加入引用管理器
E-mail Alert
RSS
作者相关文章
赖安迪 廖军 欧迪 付果
Abstract:Random defects due to differences in raw materials and the complexity of the manufacturing process are inevitable in engineering structures. Based on the inherent characteristics of sensitivity to defects in the film-substrate system, Monte Carlo method is applied in the study of stability for structures with random defects, coupled with numerical simulation to investigate the morphological evolution and post-buckling equilibrium path of film-substrate systems with random defects under instability. The numerical results show that the critical load of the structure with random defects is unstable, in which the defects significantly reduce the critical load of the structure, and the random defects destroy the symmetry of the structure, transforming the ordered checkerboard pattern into a disordered fold nuclear pattern and affecting the subsequent morphological trend. It assesses the potential risks and effects of random defects in thin film structures and aims to improve the reliability and performance of thin film devices, coatings and surface treatments, while narrowing the gap between theoretical stability research findings and practical design applications.
收稿日期: 2024-03-22      出版日期: 2024-10-11
ZTFLH:  O484.2薄膜中的力学效应  
基金资助:长沙理工大学桥梁与隧道工程创新性项目(11ZDXK11)资助; 湖南省研究生科研创新项目(CSLGCX23146)资助
通讯作者: 付果     E-mail: fuguo@csust.edu.cn
引用本文:   
赖安迪 廖军 欧迪 付果. 薄膜/衬底系统中随机缺陷的敏感性研究[J]. , 2024, 45(5): 652-664.
链接本文:  
http://manu39.magtech.com.cn/Jwk_gtlxxb/CN/10.19636/j.cnki.cjsm42-1250/o3.2024.021     或     http://manu39.magtech.com.cn/Jwk_gtlxxb/CN/Y2024/V45/I5/652
版权所有 © 《》编辑部
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发 技术支持:support@magtech.com.cn